
12月18日,在第21屆中國·華南SMT學(xué)術(shù)與應(yīng)用技術(shù)年會暨2025年度先進(jìn)制造成果頒獎典禮晚宴上,日聯(lián)科技開管智檢X-RAY——AX9600喜獲2025年度先進(jìn)制造創(chuàng)新成果獎。

此次獲獎,標(biāo)志著行業(yè)對日聯(lián)科技的納米級檢測技術(shù)創(chuàng)新與AI智檢系統(tǒng)應(yīng)用落地的認(rèn)可。

*先進(jìn)制造創(chuàng)新成果獎旨在表彰在SMT領(lǐng)域的技術(shù)提升、科技創(chuàng)新、產(chǎn)品研發(fā)等方面取得卓著成績的企業(yè),由廣東省電子學(xué)會SMT專委會頒發(fā),在SMT及電子制造領(lǐng)域內(nèi)具有較高專業(yè)性和行業(yè)認(rèn)可度。


會議上,日聯(lián)科技銷售總監(jiān)張霞針對精密電子檢測痛點(diǎn),進(jìn)一步分享了以“納米級CT與AI智檢”為核心的一體化高可靠性解決方案,與行業(yè)伙伴展開了深入交流。
光學(xué)微察,洞見缺陷
日聯(lián)納米級智檢,賦能質(zhì)控升級

日聯(lián)開管X-RAY——AX9600

AX9600采用日聯(lián)自研160kV開放式X射線源,保證了0.8μm級缺陷全捕捉,實(shí)現(xiàn)納米級成像及零缺陷質(zhì)控全流程閉環(huán)。

納米級工業(yè)CT——AX9500

日聯(lián)科技開管裝備覆蓋2D、2.5D、3D檢測,作為納米級3D檢測裝備的AX9500通過三維無損掃描與高精度斷層成像,精準(zhǔn)捕捉并識別晶圓級及先進(jìn)封裝中的晶圓凸塊橋接、芯片冷焊、MEMS制造空洞等關(guān)鍵缺陷。
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