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在科學(xué)原理上：X射線是由于原子中的電子在能量差異很大的兩個(gè)能級(jí)之間的跳躍而產(chǎn)生的粒子流，它是一種電磁輻射，波長介于紫外線和γ射線之間。德國物理學(xué)家W.K.倫琴于1895年被發(fā)現(xiàn)，因此也被稱為倫琴射線。
倫琴射線X波長很短，大約在0.01~100埃之間，具有很高的穿透能力，可以通過墨紙、木材等多種可見光不透明物質(zhì)。這種肉眼看不見的輻射可以使許多固體材料產(chǎn)生可見的熒光，使照片底片感光和空氣電離效應(yīng)。因此，工程師利用X射線的特性開發(fā)了各種x射線檢測設(shè)備。
自20世紀(jì)中葉以來，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，x射線計(jì)劃有了一個(gè)新的發(fā)展方向——工業(yè)CT計(jì)劃。所謂工業(yè)CT，就是三維x射線掃描，就是利用非破壞性x射線透視技術(shù)，將待測物體旋轉(zhuǎn)360度，通過單軸射線穿透被測物體。根據(jù)被測物體各部分對(duì)射線的吸收和透射率，收集每個(gè)角度的穿透圖像，然后利用計(jì)算機(jī)操作重構(gòu)待測物體的實(shí)體圖像。可以看出，CT可以顯示物體的三維結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。與X射線的二維方案相比，有了質(zhì)的飛躍。從技術(shù)上講，CT斷層掃描技術(shù)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無損檢測和無損評(píng)價(jià)的最*手段。工業(yè)CT采用斷層成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)品的無損可視化測量、裝配缺陷和材料分析。不受周圍細(xì)節(jié)特征的阻擋，可以直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀和尺寸信息。
x射線檢測方案可以直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀，易于判斷缺陷的性質(zhì)。輻射底片可以作為檢測的原始記錄，供多方研究和長期保存，對(duì)薄壁工件無損檢測靈敏度高。對(duì)體積缺陷敏感，缺陷圖像平面分布真實(shí)，尺寸測量準(zhǔn)確。對(duì)工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對(duì)檢測結(jié)果影響不大，可用于各種材料的內(nèi)部缺陷檢測，因此廣泛應(yīng)用于壓力容器的焊接質(zhì)量檢測。
工業(yè)CT方案具有明顯的優(yōu)勢
首先，工業(yè)CT技術(shù)獲得的被測物體斷層圖像分辨率高，更重要的工業(yè)CT檢測不受被測工件幾何結(jié)構(gòu)的限制。
其次，工業(yè)CT不僅可以用二維圖像展示被測樣品，還可以對(duì)工件的二維斷層圖像進(jìn)行三維立體重建，重建結(jié)果可以直觀地區(qū)分被測對(duì)象的內(nèi)部細(xì)節(jié)，包括工件被測對(duì)象的內(nèi)部構(gòu)成結(jié)構(gòu)、材質(zhì)、切面是否有缺陷，工件內(nèi)部缺陷的形狀、大小、位置等。
此外，工業(yè)CT技術(shù)具有較高的空間分辨率和密度分辨率，適應(yīng)性較強(qiáng)，可用于不同灰度等級(jí)的檢測；工業(yè)CT圖像易于識(shí)別和理解，檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確等。
工業(yè)電腦斷層掃描還有一個(gè)明顯的發(fā)展方向，即檢測和識(shí)別工業(yè)電腦斷層掃描切片圖像中的缺陷的主要方法是由專業(yè)人員人為判斷。這種識(shí)別方法主要依賴于測試人員的經(jīng)驗(yàn)，測試結(jié)果往往受到測試人員主觀判斷的干擾，結(jié)果不夠客觀。
隨著大數(shù)據(jù)、云計(jì)算，特別是量子時(shí)代的到來，許多公司已經(jīng)開始研究缺陷智能檢測方法，消除人們主觀意識(shí)對(duì)檢測結(jié)果的阻礙，依靠大量實(shí)際數(shù)據(jù)作為缺陷識(shí)別，提高效率，保證檢測質(zhì)量。人工智能智能識(shí)別和區(qū)分樣品信息將成為工業(yè)電腦斷層掃描檢測領(lǐng)域的發(fā)展方向，這也是未來缺陷檢測技術(shù)發(fā)展的必然趨勢。
日聯(lián)科技一直關(guān)注工業(yè)CT的最前沿領(lǐng)域，我們開發(fā)的工業(yè)CT掃描設(shè)備，與國內(nèi)許多科研機(jī)構(gòu)和工廠合作，利用工業(yè)CT開發(fā)專業(yè)智能識(shí)別分析軟件，目前我們的設(shè)備已經(jīng)幫助許多企業(yè)，通過靈活性的程序軟件，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品缺陷的自動(dòng)化識(shí)別，大大提高了工作效率。
